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    使用涂層測厚儀時(shí)應當遵守的規定

    發(fā)布時(shí)間:2020-08-08 作者:魯超超聲 點(diǎn)擊:94次

    使用涂層測厚儀時(shí)應當遵守的規定
    a 基體金屬特性
      對于磁性方法,標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
      對于渦流方法,標準片基體金屬的電性質(zhì),應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
    b 基體金屬厚度
      檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度,如果沒(méi)有,可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準。
    c 邊緣效應
      不應在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內轉角等處進(jìn)行測量。
    d 曲率
      不應在試件的彎曲表面上測量。
    e 讀數次數
      通常由于儀器的每次讀數并不完全相同,因此必須在每一測量面積內取幾個(gè)讀數。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內進(jìn)行多次測量,表面粗造時(shí)更應如此。
    f 表面清潔度
      測量前,應清除表面上的任何附著(zhù)物質(zhì),如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)


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